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抗干扰介质损耗测试仪(CVT变比)

厂商性质: 生产厂家
产品时间: 2024-12-03
抗干扰介质损耗测试仪(CVT变比),标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并算出被测试品电容容值(CX)和介质损耗(tgδ)。

产品介绍

品牌其他品牌应用领域医疗卫生,化工,地矿,交通

产品概述:

抗干扰介质损耗测试仪(CVT变比),标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并算出被测试品电容容值(CX)和介质损耗(tgδ)。

抗干扰介质损耗测试仪(CVT变比)技术指标:

1、试验环境温度:10℃~30℃(LCD液晶屏应避免长时间日照)

2、高压介质损耗测试仪,相对湿度:20%~80%

3、供电电源:电压:220V±10%,频率50±1Hz

4、外形尺寸:长*宽*高=470mm*320mm*360mm

5、重量:18kg

6、输出功率:1.5KVA

7、显示分辨率:3位、4位(内部全是6位)

8、测试方法:正接法、反接法、外接试验电压法

9、测量范围:内接试验电压:

tgδ:99.9%

Cx :30 pF<Cx(10KV)<60000 pF

10KV  Cx<60000 pF

5KV   Cx<80000 pF

2.5KV  Cx<0.3uF

外接试验电压:由外接试验变压器输出功率而定

10、基本测量误差:介质损耗(tgδ):1%±0.09%  

电容容量(Cx):1.5%±1pF

11、分辨率: tgδ:0.01%    Cx :0.1pF

工作原理:

仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路,如图三所示。

标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并算出被测试品电容容值(CX)和介质损耗(tgδ)。

数据采集电路全部采用高压稳定器件,采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽,仪器外壳接地屏蔽;另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,使测量结果稳定、***、可靠。

仪器高压器的高压侧和测量线路都是浮地的,用户可根据不同的测量对象和测量需要,灵活地采用多种接地方式。如采用“正接线法”进行测量时,可将“E”点接地;而当采用“反接法”进行测量时,可将“UH”点接地,而将E点浮空。

操作键盘:

备用------不用。

快测-------快速测量,无抗干扰功能。

抗扰-------抗干扰测量。

正接-------正接法测量。

打印-------在测试结果出来后,打印测试数据。

反接-------反接法测量。

起动-------起动高压,开始测量。

外接-------外接法测量。也用来选择外接标准电容的容量。

停止-------可以在测试过程中,中断测量。

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